MiniTest 7400高精度涂層測(cè)厚儀
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MiniTest 7400高精度涂層測(cè)厚儀
德國(guó)EPK
MiniTest 7400高精度涂層測(cè)厚儀
所有金屬基材上的非破壞性測(cè)量
多種圖形顯示選項(xiàng)
菜單控制界面，更強(qiáng)的數(shù)據(jù)和配置管理
用于簡(jiǎn)易配置評(píng)估和數(shù)據(jù)設(shè)置報(bào)告的PC軟件
測(cè)量厚度高達(dá)35mm的各種耐磨探頭
SIDSP?技術(shù)提升**度和重現(xiàn)性
MiniTest 7400高精度涂層測(cè)厚儀 可選探頭:
種類繁多的可換探頭，滿足各種應(yīng)用要求。
可以通過推拉式連接系統(tǒng)輕松地更換探頭。
兩用型FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體材料。
與表面接觸后，儀器自動(dòng)切換到合適的測(cè)量原理。 因此，應(yīng)用錯(cuò)誤會(huì)被淘汰，加快了測(cè)量進(jìn)程。
MiniTest 7400高精度涂層測(cè)厚儀 探頭技術(shù)參數(shù):
1.多點(diǎn)校準(zhǔn),在實(shí)驗(yàn)室條件下符合提供的標(biāo)準(zhǔn)
2.零點(diǎn)校準(zhǔn)，并且校準(zhǔn)值和預(yù)期的涂層厚度接近
3.使用精密支架，不適用HD探頭
4.如果選擇“快速”，測(cè)量速度主要取決于操作
5.根據(jù) DIN 55350
MiniTest 7400高精度涂層測(cè)厚儀
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